LUMOS

フルオート顕微 FT-IR システム: LUMOS

完全自動化を実現した顕微測定専用FT-IR です。試料の可視観察からスペクトル測定にいたる全てにおいて、使い易さと高い分光性能を両立させるための技術が凝縮されています。

 

概要 テクノロジー アプリケーション

ATR プリズムを含むすべての可動部の電動化により、LUMOS は測定手順の自動化を高度に実現しています。ATR モードにおいても、ハードウェア設定やスペクトル測定に必要な操作をすべて自動で行うことができます。

直観的で操作性に優れるソフトウェアに従うだけで、顕微測定のすべての操作を確実に実行することができます。測定の各ステップにおいて必要となる操作と関連する機能がシンプルに表示されます。試料の可視像、赤外スペクトル、試料に関する情報もすべて 1 つのデータファイルに保存され、データ処理や解析、最終的なレポート作成まで、すべて OPUS ソフトウェアで行うことができます。

LUMOS - 誰にでも使える優れた操作性と高い分光性能をあわせ持つ、ルーチン分析から研究開発用途まで活躍の場を選ばない新たな赤外顕微鏡の誕生です。

特長

 全自動 顕微測定専用 FT-IR

 簡単・快適な操作性

 電動 ATR プリズム

 透過、反射、ATR モードの切り替えの完全自動化

 サンプリングを容易にする大きな作動距離

 高品位光学系

 設置場所を選ばない省スペース設計

最強のFT-IRテクノロジー

心臓部にあたる干渉計には、ブルカー・オプティクスの特許技術のひとつであり、光学スループットと安定性に優れる RockSolid 機構を採用。

 アライメントフリー、耐震性・安定性に優れるキューブコーナー干渉計

 金コートミラーによる高効率光学系

 耐湿性に優れる ZnSeをビームスプリッターや光学窓板の材質として採用

 長寿命赤外光源(5年以上)

 長寿命固体レーザー(10年以上)

 検出感度と応答特性に優れるMCT検出器(オプション)

 

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new_bruker「FT-IR分光法によるポリマー・プラスチック材料の解析」特設サイト

 

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FT-IR 分光計と顕微光学系を一体化した、顕微 FT-IR 専用システムです。すべてのコンポーネントを電動化・電子コード化することで、オペレーションを完全に自動化。特に対物鏡に内蔵された電動 ATR プリズムにより、透過・反射モードと ATR モードの切り替えも完全に自動化しています。顕微 ATR 測定においてもバックグランドスペクトルの測定から試料の測定まで、すべての操作についてオペレータの手を煩わすことなく実行可能です。

 ゲルマニウム ATR プリズムの電動化と電子圧力制御

 ビュースルーアパーチャの電動化

 透過測定用コンデンサーの電動化

 偏光観察ユニットの電動化(オプション機能)

 電動 XY ステージ(マニュアルステージ選択可能)

 電動 Z ドライブ(ステージ高さ調整機構)

 測定モード / 可視観察モード切り替えの電動化

 対物鏡 開口数の電動切り替え

 試料ステージプレートの電子認識機能

高品位光学系

LUMOS は、透過、反射、ATR の各測定モードに対応する高性能対物鏡(倍率8倍)を装備しています。LUMOS は緒収差を最小限に抑えた非常にクリアな観察像を実現しています。さらに、クリアな可視観察像と赤外スペクトル測定における高空間分解能を両立するため、対物鏡の開口数を観察モードとスペクトル測定モードで自動的に切り替えるという非常にユニークな機構を備えています。

スマートデザイン

LUMOS は、わずかなスペースで設置が可能なコンパクト設計ですが、対物鏡と試料ステージの間には広いアクセススペースを確保しています。最大 40mm の厚みを持つ試料をセットすることが可能です。非常に大きなサンプリングスペースをもつ試料ステージにより、試料をセットする際の作業効率が大幅に向上します。

マクロサンプリング

LUMOS は、顕微 FT-IR 専用機として開発された装置ですが、オプションとして用意される MACRO ユニットを接続することで、一般的なサイズの試料の測定も可能となります。この MACRO ユニットには、ブルカーの高性能超小型 FT-IR“ALPHA”に開発された QuickSnap サンプリングモジュールを装着することが可能で、これによりサンプリングの柔軟性がさらに高まります。MACRO ユニットは、固体、液体、気体など、ほぼすべての形状の試料に対応します。

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LUMOS ATR

広がるアプリケーション

高い空間分解能によるスペクトル分析はもちろん、可視化においても高品位のデータを提供する LUMOS は、幅広いアプリケーションに対応可能です。粒子状の異物や表面汚染物質の同定は、不良品の原因究明において不可欠であり、あらゆる産業において非常に重要な課題です。

刑事事件や交通事故等の現場で発見される繊維や塗料片などの化学残留物質に関する分析の結果は、科学捜査において重要な証拠となります。偽造書類や偽札の識別を目的として行われるインク分析も同様であり、いずれのケースにおいても顕微 FT-IR による分析は有用なアプローチです。
顕微 FT-IR のマッピング法を用いることで、積層構造を持つ高分子フィルム、あるいは生体組織や美術品・工芸品のように、不均一な構造をもつ試料について、化学組成の分散状態を可視化することが可能となります。 各種工業分野や大学等における研究開発まで、幅広いアプリケーションに対応します。

代表的なアプリケーション

 微小異物の同定
   ・電子デバイス材料
   ・製薬、製剤
   ・光学材料、部品
 不良品および汚染物質の分析
   ・高分子材料、ゴム
   ・精密機械部品
   ・電子デバイス
   ・錠剤
   ・コーティング
 表面分析
   ・コーティング
   ・紙の上のインク
 積層構造の分析
   ・包装材
   ・ポリマーラミネート
   ・塗料、塗膜
 繊維の同定
   ・科学捜査
   ・織物
 複雑な試料の化学組成分析
   ・生物組織
   ・錠剤

LUMOSを使用したアプリケーションノートはこちら

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