赤外・ラマン技術セミナー2017のご来場ありがとうございました。

最新分析技術とその活用方法を学ぶ、毎年恒例の大型セミナー

10月25日(水)大阪・10月27日(金)東京のセミナーに多数のご来場を賜り誠にありがとうございました。

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今年も中赤外・近赤外・ラマン分光法を駆使した最先端の研究・開発の現場でご活躍中の外部講師をお招きし、最新の分析技術とその応用、さらには活用におけるノウハウ等についてご講演いただきます。

今回はとくに、熱分析および材料評 価・材料分析をテーマとして取り上げ、最先端の研究・開発の現場でご活躍の講師をお招きしてご講演いただきま す。

最新の分析技術とその応用、さらには活用におけるノウハウまで、皆様のお仕事の中でもお役立ていただける情報が満載です。

ぜひ皆様奮ってのご参加をお待ちしております。

 

 開催概要

タイトル  ブルカー・オプティクス 赤外・ラマン技術セミナー2017
日程 大 阪: 2017年10月25日 (水) 13:30〜17:00 ※受付開始13:00 

東 京: 2017年10月27日 (金) 13:30〜17:00 ※受付開始13:00  

会場  大 阪: ナレッジキャピタル カンファレンスホール 

 東 京: トラストシティカンファレンス・丸の内    

参加費  無 料
定員  東 京:100名、大 阪:80名
セミナー詳細  セミナーご案内チラシはこちら(PDF)
お申込み  こちらのセミナーは終了しました。
お問合せ

 ブルカー・オプティクス株式会社
 マーケティング セミナー担当
 TEL: 045-450-1601 Email:marketing.bopt.jp@bruker.com

 

 プログラム

時間 講演内容
13:00 - 13:20 開場/受付
13:20 - 13:30 ご挨拶

13:30 - 14:30

招待講演1
熱分析―発生ガスカップリングシステムによる熱反応・熱分解の評価事例

  • 塚本 修 様 - ネッチ・ジャパン株式会社 アプリケーションマネージャー

電子材料や工業製品の加熱時における発生ガスは臭気・有毒・腐食等の様々な問題の要因となる。 本講演では、熱分析とガス分析装置(FT-IR, MS)を組み合わせたカップリングシステムによる、ガス発生の熱反応の評価事例を紹介する。

14:30 - 15:30

招待講演2
赤外分光法を用いた各種エレクトロニクスデバイスの評価・解析法

  • 關 洋文 様 - 株式会社東レリサーチセンター 構造化学研究部 構造化学第1研究室 室長

近年、半導体デバイスの微細化、薄膜化が進行しており、これに伴い半導体用途の材料評価に関しても、極薄膜 やパターニングされた微細構造での評価が求められている。我々は、これまで半導体用途の極薄膜や微細化され たパターンでの評価、さらに製品化されたデバイス試料の評価にも取り組んできた。 本公演では、我々の今までの取り組み、また高感度化への取り組みについても紹介する。

15:30 - 15:50 コーヒーブレーク (製品展示実施中)

15:50 - 16:50

招待講演3

材料分析における赤外・ラマン分析法の活用と誤解析回避

宮下 喜好 様 - 群馬県立群馬産業技術センター 所長

赤外・ラマン分析法は、簡便な分子分光分析法であり、優れた微小部分析法になりうる。また、測定試料や測定 条件によっては、高度な表面分析能力を発揮する。しかしながら、測定条件によっては装置や光学特性に由来し たスペクトル変動が生じ、誤解析に至る場合がある。FTIR特有のスペクトル変動や各種赤外反射スペクトルの特 徴と誤解析回避、FPA検出器測定による検証例などを紹介するとともに、ラマンスペクトルの特徴と注意点につい ても触れる。

16:50 - 17:00 謝辞・閉会

※ 上記タイムテーブルは変更となる場合がございます

 

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